芯片三輪測試儀

更新時間：2024-01-11
廠商性質：生產廠家
訪問次數(shù)：1796

簡要描述：芯片三輪測試儀三輪測試儀適用于對識別卡、帶觸點的集成電路卡進行三輪往復循環(huán)測試

　　一、芯片三輪測試儀介紹：

　　UHIC三輪測試儀根據(jù)Master 卡CQM項目對卡進行三輪測試，適用于對識別卡、帶觸點的集成電路卡進行三輪往復循環(huán)測試，將芯片卡放在機器測試滾輪之間，將芯片在三個鋼制滾輪間循環(huán)測試100次，芯片前方滾動50次，芯片后方滾動50次，循環(huán)頻率為0.5Hz，并在芯片上加一個8N的力，經過往復循環(huán)測試后驗證ICC觸點芯片功能是否正常。測試儀配有額外的一個15N砝碼用于進行CQM標準的測試。

　　二、主要技術參數(shù)：

　　1、三輪測試儀型號：UHICC

　　2、測試輪循環(huán)次數(shù)：前后循環(huán)各50次

　　3、測試標準參考: Mcd

　　4、CQM測試標準參考: P-22

　　5、測試方法參考: 10.3.22

　　6、CQM: 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.2

　　7、電源: 110-220 V 50/60 Hz.

　　8、測試廠家：

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